一种提高单晶金刚石表面β-氧化镓薄膜结合力的方法
本发明提供了一种单晶提高金刚石表面β‑Ga2O3薄膜结合力的方法,属于金刚石表面薄膜制备技术领域。本发明使用两步水热法在单晶金刚石上制备了β‑Ga2O3薄膜:通过等离子刻蚀处理单晶金刚石表面,随后在高温水浴环境下播种,然后生长GaOOH薄膜,最后高温退火即可。在此基础上,通过掩膜/光刻等工艺进一步制备β‑Ga2O3器件。本发明能够有效改善β‑Ga2O3器件由于极低的热导率所导致的自热效应,提高器件的性能和稳定性,提高了金刚石与β‑Ga2O3之间的膜基结合力,解决了两者结合时由于晶格常数和热膨胀系数的较大差异导致β‑Ga2O3薄膜与金刚石衬底之间出现裂缝或者掉落的问题。
高性能半导体器件领域:该方法可使 β- 氧化镓薄膜与单晶金刚石牢固结合,能有效改善 β- 氧化镓器件的自热效应,提高其性能和稳定性,从而推动高频高功率器件、紫外探测器、气敏传感器等高性能半导体器件的发展,满足现代电子技术对高性能器件的需求。
光电器件集成领域:有助于实现 β- 氧化镓薄膜与单晶金刚石在光电器件中的集成应用,如制备出更高效、更稳定的光电器件,提升光电器件的整体性能和可靠性,为光通信、光显示等领域提供更优质的器件基础。
集成电路散热领域:利用单晶金刚石的高导热性,结合牢固的 β- 氧化镓薄膜,可开发出性能更优的集成电路散热方案,解决集成电路在高功率运行时的散热难题,提高集成电路的工作频率和可靠性,促进集成电路产业的进一步发展。
与现有技术相比,本发明具有如下优点和技术效果:
本发明提供了一种提高单晶金刚石表面β-Ga2O3薄膜结合力的方法,与现有技术相比,本发明通过两步水热法在经刻蚀处理的单晶金刚石表面制备β-Ga2O3薄膜,提高了单晶金刚石与β-Ga2O3之间的膜基结合力,能够有效解决β-Ga2O3薄膜与单晶金刚石衬底之间出现裂缝或者掉落的问题。此外,水热法制备β-Ga2O3薄膜,操作简单,技术设备要求低,易于实现工业化应用。
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王永胜
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