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一种基于Lab VIEW开发平台的尺寸测量系统及其测量方法

  • 发布时间: 2024-02-21
预算 双方协商
基本信息
成果方:上海第二工业大学
合作方式:技术转让
成果类型:发明专利,
行业领域
电子信息技术
成果描述

本发明是一种基于Lab VIEW开发平台的尺寸测量系统及其测量方法,包括上位机、PLC、3D激光相机以及线性模组装置;上位机用于向PLC发出工作指令,通过PLC完成与3D激光相机以及线性模组装置的信号交互;PLC与上位机连接,接收上位机的指令控制3D激光相机的触发以及线性模组装置的运动;3D激光相机安装在线性模组装置上,3D激光相机用于扫描被测物体生成3D点云数据以及灰度数据,并将其数据传输给上位机;线性模组装置与PLC连接,由PLC控制,用于带动3D激光相机移动。本本发明结构简单、抗噪性强、视野广、安装方便、精度高、通用性强;解决了传统测量系统所带来的稳定性差、视野受限、配置繁琐、抗噪性差以及较难集成等问题。

应用范围
当今生产行业对于尺寸的要求极为严苛,对于已经注塑成型的外壳、焊接完成的电路板等被测对象,柱头、排针以及电子元器件等被测量目标的高度是判断产品是否符合生产要求的一项重要指标。
传统的尺寸测量系统利用工业相机拍摄平面图像,通过分析灰度图像或彩色图像来计算被测对象上被测量目标的高度,此类系统通常对工作环境要求严苛,抗噪性差、视野较小、配置繁琐、精度受限,对于部分被测对象的表面不敏感导致该系统的通用性差。


前景分析
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
一、3D激光相机可以自动生成3D点云数据,并以数组的形式输出,从中可以直接读取高度信息,同时解决了抗噪性差、配置繁琐、精度受限,对于部分被测对象的表面不敏感导致该系统的通用性变差等问题;
二、区别于传统测量系统的静态拍照方式,该系统利用线性模组与3D激光相机配合,采用线扫描的采集数据方式解决了视野受限的问题,3D激光相机的使用提高了系统的测量精度。


联系方式

  • 联系人:

    秦琴

  • 联系电话:

    15373221250

  • 通讯地址:

    上海市浦东新区金海路2360号

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