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半导体晶圆与液晶面板等产品的批次生产过程，其生产模式已由单一产品的生产模式发展到多产品共线的生产模式，即：同时在线生产的产品规格有很多种，且由于生产机台昂贵驱使工程师将生产机台的利用时间极大化，尽可能地降低机台的空闲时间，所以同一种规格产品有可能在不同生产机台上生产，同一生产机台又会生产各种规格的产品，这种生产过程被称为混合制程。

需解决：

1、对整个加工过程的产品质量无法进行评估，较难及时发现不良品，增加生产成本。

2、增加产品的抽样频率，加重现场工程师的工作量，降低工作效率。

3、复杂化虚拟测量模型的结构与数量，较难于现场工程师理解和维护。

期望实现：

1、利用虚拟测量模型，可对整个加工过程的产品质量进行评估，及时发现不良品，降低生产成本。

2、利用虚拟测量模型，对混合制程的产品质量进行预测，可降低产品的抽样频率，减轻现场工程师的工作量，提高工作效率。

3、简化虚拟测量模型的结构与数量，便于现场工程师理解和维护。